服務支持Service
To first-class products
Quality service to meet customer needs
國內市場部
0510-83205379
24小時服務
國際貿易部
0510-68795132 15106177808
傳 真：0510-83213469
E-mail：[email protected]
地 址：江蘇省無錫市濱湖區梁通路19號免費咨詢熱線:
400-0833-980
LIBS激光誘導光譜儀與熒光光譜儀的對比
發布時間：2019-11-06 09:09:36 點擊：14260
基于這種特殊的等離子體剝蝕技術，通常在原子發射光譜技術中分別獨立的取樣、原子化、激發三個步驟均可由脈沖激光激發源一次實現。等離子體能量衰退過程中產生連續的軔致輻射以及內部元素的離子發射線，通過光纖光譜儀采集光譜發射信號，分析譜圖中元素對應的特征峰強度即可以用于樣品的定性以及定量分析。
LIBS激光誘導光譜儀與熒光光譜儀的對比
XRF熒光光譜儀技術
（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。
探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為11號元素（鈉Na）到92號元素（鈾U）。
